多個(gè)波疊加時(shí)，每一波相位波加強的部分中相互匹配，其中，通過(guò)利用破壞性在相位反轉的部分，波長(cháng)（頻率）和測量相位差的技術(shù)。利用此原理的設備主要稱(chēng)為干涉儀。
光學(xué)干涉儀是一種利用光的干涉現象來(lái)測量長(cháng)度、厚度、折射率等物理量的儀器。它的工作原理是利用光的波動(dòng)性和干涉現象，通過(guò)比較光程差來(lái)測量被測量體的長(cháng)度或厚度等物理量。
光學(xué)干涉儀的基本組成部分包括光源、分束器、反射鏡、光程差調節器和檢測器。在工作時(shí)，光源發(fā)出的光線(xiàn)經(jīng)過(guò)分束器分成兩束光線(xiàn)，經(jīng)反射鏡反射后再匯合。當兩束光線(xiàn)匯合后，由于光的波動(dòng)性，它們會(huì )產(chǎn)生干涉現象，形成干涉圖樣，通過(guò)觀(guān)察干涉條紋的形態(tài)和移動(dòng)情況，可以計算出被測物體的長(cháng)度或厚度等物理量。
光學(xué)干涉儀的應用非常廣泛，比如在工業(yè)生產(chǎn)中用于測量機械零件的長(cháng)度和厚度、在材料研究中用于測量材料的折射率和厚度、在生物醫學(xué)中用于測量細胞和組織的長(cháng)度和厚度等等。
